Omni（最新產品）_美國布魯克海文儀器公司

粒度及Zeta電位測量

Omni（最新產品）

173Plus多角度粒度分析儀

90Plus納米/亞微米激光粒度儀

BioDLS高通量自動化粒度分析儀

FOQELS高濃度粒度分析儀

NanoDLS高靈敏粒度分析儀

ACOS實時在線粒度檢測系統

TurboCorr數字相關器

BI-XDC圓盤式離心/沉降粒度儀

BI-DCP圓盤式離心/沉降粒度儀

Zeta電位測量

ZetaPALS高靈敏度Zeta電位儀

ZetaPlus型Zeta電位儀

BI-870介電常數測定儀

BI-ZTU自動滴定儀

光散射系統

BI-200SM廣角度動/靜態激光散射儀

分子量測量

BI-MwA多角度激光光散射（絕對分子量測定）儀

BI-DNDC示差折射儀

BI-2010/2020粘度/示差檢測器

· Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀

產品簡介： Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀完美結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術徹底解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測

首頁　上一頁　下一頁　尾頁　共1記錄，當前1/1頁每頁6條　跳轉：　

上海市普陀區嵐皋路567號1108-26室電話：021-62665073 400-718-7758 傳真：021-62761957
美國布魯克海文儀器公司版權所有管理登陸備案號：滬ICP備19006074號-1 技術支持:化工儀器網

西西人体一级毛片大胆的女人