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      · Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
    產品簡介:     Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀完美結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術,擁有15°、90°與173°三個散射角度,突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性,硬件PALS技術徹底解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測
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